Malvern Panalytical · EMPYREAN
İSTE-BTM Binası · Sorumlu: Damla ANIL ÇELEBİ
X-Işını Kırınım yöntemi (XRD), her bir kristal fazın kendine özgü atomik dizilimlerine bağlı olarak X-ışınlarını karakteristik bir düzen içerisinde kırması esasına dayanır. Her bir kristal faz için bu kırınım profilleri bir nevi parmak izi gibi o kristali tanımlar. X-Işını Kırınım analiz metodu, analiz sırasında numuneyi tahrip etmez ve çok az miktardaki numunelerin dahi analizlerinin yapılmasını sağlar. Merkezimizde X-Işını Kırınım cihazıyla kayaçların, kristal ve amorf malzemelerin, ince filmlerin ve polimerlerin nitel ve nicel incelemeleri yapılabilir.
•Çalışma ortamı olan Empyrean kabinin 2 ana parçası vardır: difraktometre muhafazası ve elektronik ve destek ünitesi.
•Difraktometrenin çekirdeği olarak gonyometre.
•X-ışını tüpü (Cu-Kα), bir tüp gövdesinde gonyometreye monte edilmiştir. Cihaz, X-ışın tüpü kullanım ömrü boyunca yüksek çözünürlük sağlayacak şekilde tasarlanmış ve hem nokta hem de çizgi odaklı çalışmalara olanak tanımaktadır.
•Gelen ve kırılan X-ışınları için optik modüller vardır. Bu modüller gonyometrenin kollarındaki PreFIX konumlarına monte edilebilir (Gelen X-ışınları için Bragg-Brentano optik modül, kırılan X-ışınları için Cross Slit Collimator).
•Bir numunenin, özelliklerinin ölçülebilmesi için konulduğu örnek tutucu.
•Örnekten kırılan X-ışınının yoğunluğunu ölçen ayırma gücü yüksek katı hal tipinde üç boyutlu piksel tabanlı (pixcel3D) dedektörüne sahiptir. Dedektör 0D modda noktasal dedektör 1D modda çizgisel dedektör ve 2D modda alansal dedektör olarak 2 boyutlu Debye halkalarının gözlenmesinde kullanılmaktadır.
•Sistemin sahip olduğu sıcaklık kontrol ünitesi ile 1100°C'ye kadar ölçüm alınmaktadır.